Сигмаметр разработан для специфического измерения насыщения ?s материала. Этот параметр характеризует ферромагнитную фазу и, в принципе, не зависим от структуры, формы образца. Когда ферромагнитное соединение помещено в ферромагнитное поле, оно магнетизировано. Оценка этого намагничевания увеличивается с полем и ожидает максимума.
Специфическая намагниченность насыщения ?s представляет связь между максимумом магнитного момента и массой образца. Магнитный момент определяется, помещая образец вне магнитного поля и измеряя f.e.m индукции. Интеграл пропорционален оценке ?s этого материала, считая, что он был насыщен полем. Микропроцессор, как встроенный блок считывания этой f.e.m, осуществляет необходимые расчеты, чтобы добиться либо оценки ?s, либо процентного содержания в ферромагнитной фазе. Результат можно прочитать на экране.